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74AHCT32 Scheda tecnica (PDF) - NXP Semiconductors

74AHCT32 Datasheet PDF - NXP Semiconductors
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74AHCT32 Datasheet (PDF)

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74AHCT32 Scheda tecnica (HTML) - NXP Semiconductors


74AHCT32 Dettagli del prodotto

General description
The 74AHC32; 74AHCT32 is a high-speed Si-gate CMOS device and is pin compatible with Low-power Schottky TTL (LSTTL). It is specified in compliance with JEDEC standard No. 7-A.
The 74AHC32; 74AHCT32 provides the 2-input OR function.

Features
■ Balanced propagation delays
■ All inputs have Schmitt-trigger actions
■ Inputs accept voltages higher than VCC
■ Input levels:
   ◆ For 74AHC32: CMOS level
   ◆ For 74AHCT32: TTL level
■ ESD protection:
   ◆ HBM EIA/JESD22-A114E exceeds 2000 V
   ◆ MM EIA/JESD22-A115-A exceeds 200 V
   ◆ CDM EIA/JESD22-C101C exceeds 1000 V
■ Multiple package options
■ Specified from −40 °C to +85 °C and from −40 °C to +125 °C




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A proposito di NXP Semiconductors


NXP Semiconductors è un'azienda multinazionale quotata in borsa che progetta, sviluppa e produce una vasta gamma di semiconduttori e circuiti integrati per varie applicazioni, tra cui mercati automobilistici, industriali, di comunicazione e di consumo.

La società è stata fondata nel 2006 ed è con sede a Eindhoven, nei Paesi Bassi.

NXP offre un ampio portafoglio di prodotti, tra cui microcontroller, microprocessori, ICS di autenticazione sicuri, ICS di gestione dell'alimentazione, RF e componenti a microonde e soluzioni di sensori, tra gli altri.

I prodotti dell'azienda sono progettati per essere efficienti dal punto di vista energetico, sicuri e affidabili e sono utilizzati in una varietà di applicazioni, tra cui sistemi automobilistici, automazione e controllo industriali, case intelligenti ed edifici e dispositivi connessi.

NXP è dedicato all'innovazione e alla soddisfazione dei clienti e si impegna a fornire ai propri clienti le migliori soluzioni per semiconduttori per soddisfare le loro esigenze.

*Queste informazioni sono solo a scopo informativo generale, non saremo responsabili per eventuali perdite o danni causati dalle informazioni di cui sopra.




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